格特電子負(fù)載高溫老化房一種專門設(shè)計(jì)的測試設(shè)備，用于模擬高溫、惡劣環(huán)境條件，并通過加載一定的負(fù)載或工作條件，使產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進(jìn)行長時(shí)間的老化測試。在高溫環(huán)境下對電子產(chǎn)品進(jìn)行負(fù)載測試。
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